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Come ottenere asimmetria e curtosi per colonne raggruppate e rappresentare graficamente i dati rispetto a un'altra colonna?

Come posso tracciare il grafico dell'asimmetria e della curtosi (sull'asse y) per tutti i processi rispetto all'"ID wafer nell'ID lotto" utilizzando i seguenti dati?

dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");

Questo set di dati è simile al mio set di dati attuale, quindi servirà allo scopo.

So come ottenere l'asimmetria e la curtosi tramite la piattaforma di distribuzione in modo interattivo, ma non riesco a ottenere i numeri rispetto a "Wafer ID in lot ID" tramite "make combined data table". Come si fa tramite JSL?

Automazione e scriptingAnalisi e modellazione dei dati di baseR: Come ottenere asimmetria e curtosi per colonne raggruppate e rappresentare graficamente i dati rispetto a un'altra colonna?

Crea tabella dati combinati sembra funzionare bene per me. JMP ha creato lo script

Names Default To Here(1);

dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");

rpt = New Window("Semiconductor Capability - Distribution 2",
	Data Table("Semiconductor Capability") <<
	Distribution(
		Continuous Distribution(
			Column(:NPN1),
			Customize Summary Statistics(Skewness(1), Kurtosis(1)),
			Process Capability(0)
		),
		By(:lot_id)
	)
);
Wait(0);
rpt["Distributions", "lot_id=lot01", "NPN1", "Summary Statistics", Table Box(1)] <<
Make Combined Data Table;
rpt << Close Window;

R: Come ottenere asimmetria e curtosi per colonne raggruppate e rappresentare graficamente i dati rispetto a un'altra colonna?

Posso ottenere la distribuzione, l'asimmetria e la curtosi ecc. per tutti i processi tramite JSL, ma non so come ottenere questo per "Wafer ID in lot ID" in una tabella dati e un grafico. Ho bisogno di qualche indicazione qui.

Names Default To Here(1);
Clear Log(); 
dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
cnames = dt << get column names( string, continuous );
//col_names = dt << get column group ("Processes");
cnames = cnames[1::N Items (cnames)];
dist = dt << Distribution(
            Columns(evalList(cnames)),
		    Summary Statistics(1),
		    Customize Summary Statistics(
			Std Err Mean(0),
			Upper Mean Confidence Interval(0),
			Lower Mean Confidence Interval(0),
			N(0),
			Skewness(1),
			Kurtosis(1),
			CV(1),
			Minimum(1),
			Maximum(1),
			Median(1)
		),
);

R: Come ottenere asimmetria e curtosi per colonne raggruppate e rappresentare graficamente i dati rispetto a un'altra colonna?

Ecco come gestirei questa situazione

Names Default To Here(1);
Clear Log(); 
dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
cnames = dt << get column names( string, continuous );
// for simplicity, only use 5 of the columns
remove from(cnames,6,nitems(cnames));
//col_names = dt << get column group ("Processes");
cnames = cnames[1::N Items (cnames)];
// Use the invisible element to hide output.  
dist = dt << Distribution(invisible,
            Columns(evalList(cnames)),
		    Summary Statistics(1),
		    Customize Summary Statistics(
			Std Err Mean(0),
			Upper Mean Confidence Interval(0),
			Lower Mean Confidence Interval(0),
			N(0),
			Skewness(1),
			Kurtosis(1),
			CV(1),
			Minimum(1),
			Maximum(1),
			Median(1)
		),<BR />        // Add a By group to get results for each wafer within each lot
		by(lot_id,wafer)
);
current report()["Summary Statistics", Table Box( 1 )] << Make Combined Data Table;

R: Come ottenere asimmetria e curtosi per colonne raggruppate e rappresentare graficamente i dati rispetto a un'altra colonna?

@txnelson Funziona. Grazie. Vorrei aggiungere Cpk e Ppk tramite (lot_id, wafer) nella tabella dati combinata. Come aggiornare il tuo JSL per ottenere questo risultato?

(guardando il JSL generato automaticamente per questo, sembra che la casella Outline debba essere selezionata per Cpk e Ppk)

R: Come ottenere asimmetria e curtosi per colonne raggruppate e rappresentare graficamente i dati rispetto a un'altra colonna?

Hai ragione, tutto ciò che bisogna fare è aggiungere un'istruzione << Crea tabella dati combinati, proprio come quella usata per creare la tabella dati per le statistiche riepilogative, ma indirizzandola alla tabella del report Entro la capacità Sigma o alla tabella Capacità Sigma complessiva.

Current Report()["Within Sigma Capability", Table Box( 1 )] << Make Combined Data Table;

Naturalmente questo presuppone che anche lo script sia stato modificato per visualizzare i report sulla capacità del processo.

Names Default To Here(1);
Clear Log(); 
dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
cnames = dt << get column names( string, continuous );
// for simplicity, only use 5 of the columns
remove from(cnames,6,nitems(cnames));
//col_names = dt << get column group ("Processes");
cnames = cnames[1::N Items (cnames)];
// Use the invisible element to hide output.  
dist = dt << Distribution(invisible,
            Columns(evalList(cnames)),
		    Summary Statistics(1),
		    Customize Summary Statistics(
			Std Err Mean(0),
			Upper Mean Confidence Interval(0),
			Lower Mean Confidence Interval(0),
			N(0),
			Skewness(1),
			Kurtosis(1),
			CV(1),
			Minimum(1),
			Maximum(1),
			Median(1)
		),
		Process Capability( Use Column Property Specs ),       
		 // Add a By group to get results for each wafer within each lot
		by(lot_id,wafer)
);
current report()["Summary Statistics", Table Box( 1 )] << Make Combined Data Table;
Current Report()["Within Sigma Capability", Table Box( 1 )] << Make Combined Data Table;