L'ICC peut être généré à l'aide de la plate-forme d'analyse du système de mesure.
En utilisant les données ci-dessous comme exemple, nous expliquerons comment générer ICC(2,1) et ICC(1,1).
- Sélectionnez Analyser → Qualité et processus → Analyse du système de mesure.
- Modifiez le « Type de graphique de variation » sur le côté gauche de l'écran en « Écart type ».
- Définissez le type de modèle sur Intersection.
- Spécifiez les colonnes comme suit et cliquez sur OK :
| [Y, variable de réponse] : | "valeur" |
| [Pièce, ID spécimen] : | "Sujet" |
| [X, variable de groupe] : | « évaluateur » |
- À partir du bouton triangle rouge en haut à gauche du rapport « Système de mesure », sélectionnez « Analyse EMP ».
→ La corrélation intraclasse (y compris le biais et l'interaction) dans le rapport « Analyse EMP » est ICC(2,1).
* Si vous ne spécifiez pas « rater » dans [X, Grouping], ICC(1,1) sera généré.
