Cosa ti ha ispirato a richiedere la Lista dei desideri?
Questa richiesta è stata inoltrata da un cliente giapponese della La Tokyo Electron Miyagi Ltd.
Descrivi la funzionalità o la soluzione nuova o migliorata che vorresti vedere.
L'asse Y delle mappe Wafer del clustering gerarchico è invertito (valore più alto in basso).
Esegui lo script qui sotto.
Names Default To Here( 1 );
dt = Open( "$SAMPLE_DATA/Wafer Stacked.jmp" );
obj = dt << Hierarchical Cluster(
Y( :Defects ),
Object ID( :Lot, :Wafer ),
Attribute ID( :X_Die, :Y_Die ),
Method( "Ward" ),
Standardize Data( 0 ),
Cluster Summary( 1 ),
Dendrogram Scale( "Distance Scale" ),
Number of Clusters( 7 ),
Add Spatial Measures( Attributes( 1 ), Angle( 1 ), Radius( 1 ), Streak Angle( 1 ), Streak Distance( 1 ) ),
SendToReport(
Dispatch( {}, "Dendrogram", OutlineBox, {Close( 1 ), SetHorizontal( 1 )} ),
Dispatch( {"Dendrogram"}, "Clust Dendro", FrameBox, {Frame Size( 35, 700 )} )
),
Save Clusters
);
Close( "Wafer Stacked Defects Spatial" );
dt << select where( :Cluster == 6 );
dt2 = dt << subset( selected rows, all columns );
dt2:X_Die << Set Modeling Type( "Nominal" );
dt2:Y_Die << Set Modeling Type( "Nominal" );
dt2 << Graph Builder(
Size( 567, 428 ),
Show Control Panel( 0 ),
Variables( X( :X_Die ), Y( :Y_Die ), Color( :Defects ) ),
Elements( Heatmap( X, Y, Legend( 7 ) ) ),
SendToReport(
Dispatch( {}, "400", ScaleBox, {Legend Model( 7, Properties( 0, {gradient( {Scale Type( "Quantile" )} )}, Item ID( "Defects", 1 ) ) )} )
)
);
Verranno visualizzate due finestre di report: Clustering gerarchico e GB.
GB è la mappa wafer del Cluster=6.
Il cliente comprende che, per convenzione, l'origine di un'immagine è in alto a sinistra e le righe vengono incrementate verso il basso dell'immagine.
Ma il cliente pensa che nel caso di wafer, ecc., potrebbe portare a un errore di valutazione. Quindi il cliente richiede che questo sia documentato nel manuale JMP.
Inoltre, il cliente capisce che la mappa wafer può essere capovolta, ma questa opzione non è documentata e desidera che lo sia.
Quale sarebbe il valore per te e/o per gli altri utenti se questa nuova funzionalità venisse fornita?
Riduce il rischio di errori di valutazione della mappa dei wafer.
Si tratta di una richiesta di un cliente esterno?
SÌ.
Nome dell'account La Tokyo Electron Miyagi Ltd.
Nome del contattoKunichi Iwabuchi | Contatto | Salesforce
Esiste un pacchetto software concorrente che ha questa funzionalità o soluzione di cui dovremmo essere a conoscenza?
N / A.
Ciò avrà ripercussioni sul rinnovo, l'espansione o l'adozione da parte di un cliente? E se non affrontiamo questo problema, l'account potrebbe essere a rischio?
N / A.
Grazie per aver dedicato del tempo a inviare questa richiesta! Il team Product Management l'ha ricevuta e la esaminerà.
