Was hat Sie zu dieser Wunschliste inspiriert?
Dies wurde von einem Kunden in Japan bei Tokio Electron Miyagi Ltd. angefordert.
Bitte beschreiben Sie die neue oder verbesserte Funktion oder Lösung, die Sie gerne sehen würden.
Die Y-Achse der Wafer-Maps aus der hierarchischen Clusterung ist umgekehrt (höherer Wert unten).
Bitte führen Sie das folgende Skript aus.
Names Default To Here( 1 );
dt = Open( "$SAMPLE_DATA/Wafer Stacked.jmp" );
obj = dt << Hierarchical Cluster(
Y( :Defects ),
Object ID( :Lot, :Wafer ),
Attribute ID( :X_Die, :Y_Die ),
Method( "Ward" ),
Standardize Data( 0 ),
Cluster Summary( 1 ),
Dendrogram Scale( "Distance Scale" ),
Number of Clusters( 7 ),
Add Spatial Measures( Attributes( 1 ), Angle( 1 ), Radius( 1 ), Streak Angle( 1 ), Streak Distance( 1 ) ),
SendToReport(
Dispatch( {}, "Dendrogram", OutlineBox, {Close( 1 ), SetHorizontal( 1 )} ),
Dispatch( {"Dendrogram"}, "Clust Dendro", FrameBox, {Frame Size( 35, 700 )} )
),
Save Clusters
);
Close( "Wafer Stacked Defects Spatial" );
dt << select where( :Cluster == 6 );
dt2 = dt << subset( selected rows, all columns );
dt2:X_Die << Set Modeling Type( "Nominal" );
dt2:Y_Die << Set Modeling Type( "Nominal" );
dt2 << Graph Builder(
Size( 567, 428 ),
Show Control Panel( 0 ),
Variables( X( :X_Die ), Y( :Y_Die ), Color( :Defects ) ),
Elements( Heatmap( X, Y, Legend( 7 ) ) ),
SendToReport(
Dispatch( {}, "400", ScaleBox, {Legend Model( 7, Properties( 0, {gradient( {Scale Type( "Quantile" )} )}, Item ID( "Defects", 1 ) ) )} )
)
);
Sie sehen zwei Berichtsfenster: „Hierarchisches Clustering“ und „GB“.
GB ist die Waferkarte von Cluster=6.
Der Kunde versteht, dass sich der Ursprung eines Bildes üblicherweise oben links befindet und die Zeilen nach unten hin erhöht werden.
Der Kunde ist jedoch der Meinung, dass dies bei Wafern usw. zu einer Fehleinschätzung führen könnte. Daher fordert der Kunde, dies im JMP-Handbuch zu dokumentieren.
Der Kunde versteht außerdem, dass die Waferkarte umgedreht werden kann, diese Option jedoch ebenfalls nicht dokumentiert ist, und möchte, dass sie dokumentiert wird.
Welchen Wert hätte die Bereitstellung dieser neuen Funktion für Sie und/oder andere Benutzer?
Verringern Sie das Risiko einer Fehleinschätzung der Waferkarte.
Handelt es sich hierbei um eine externe Kundenanfrage?
Ja.
Kontoname: Tokio Electron Miyagi Ltd.
KontaktnameKunichi Iwabuchi | Kontakt | Salesforce
Gibt es ein Konkurrenzsoftwarepaket mit dieser Funktion oder Lösung, das wir kennen sollten?
N / A.
Wird dies Auswirkungen auf eine Erneuerung, Erweiterung oder Einführung bei einem Kunden haben und wird ein Konto gefährdet, wenn wir dies nicht berücksichtigen?
N / A.
Vielen Dank, dass Sie sich die Zeit genommen haben, diese Anfrage einzureichen! Das Produktmanagement-Team hat sie erhalten und wird sie prüfen.
