Tong, Seung HoonProfessor Tong Seung Hoon, Experte für Ingenieurstatistik und Data Science im Bereich Halbleiterqualität und -fertigung bei Samsung Electronics, hat die Systematisierung und Anwendung von Data-Science- und Big-Data-Analysemethoden in Fertigungs- und Qualitätssystemen vorangetrieben. Er promovierte in Wirtschaftsingenieurwesen am KAIST (Kaun Alien Academy of Science and Technology) mit Unterstützung von Samsung Electronics und wurde 2012 zum Samsung Electronics Master ernannt, wo er maßgeblich zur Weiterentwicklung dieses Fachgebiets beitrug. Anschließend wechselte er an das Samsung Institute of Technology (SSIT) und widmet sich dort der Ausbildung von Halbleiteringenieuren. Sein Hauptinteresse gilt der Anwendung von Data-Science-Methoden zur Lösung realer Probleme und zur Entscheidungsfindung. Mit fast 35 Jahren Erfahrung im Bereich Halbleiterqualität und -fertigung beschäftigt er sich zudem intensiv mit der Anwendung von Zuverlässigkeitstechnik. Als beratender Professor hält er Vorlesungen und betreut Studierende am Samsung Institute of Technology (SSIT) und an der Hanyang Cyber University.
Beratender Professor für Halbleitertechnik – Samsung Electronics College of Engineering
