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Koichi Endo

Er hat als Ingenieur bei der Toshiba Corporation und der Toshiba Electronic Devices & Storage Corporation in den Bereichen Entwicklung von Halbleiterbauelementen, Zuverlässigkeitstechnologie und Fehleranalysetechnologie gearbeitet. Aufgrund seiner umfassenden Analysefunktionen wird JMP für Zuverlässigkeitsanalysen und Datenanalysen verwendet. Darüber hinaus werden weitere Analyseansätze erforscht.Seit 2021 forscht er am National Institute of Advanced Industrial Science and Technology zur Zuverlässigkeitsbewertung von SiC-Geräten und hält außerdem Vorlesungen an der University of Electro-Communications und anderen Einrichtungen.

Nationales Institut für fortgeschrittene industrielle Wissenschaft und Technologie, Universität für Elektrokommunikation

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