Mehul Shroff 是恩智浦半導體公司的資深研究員和六西格瑪黑帶大師，主要專注於先進CMOS和非揮發性記憶體（NVM）的可靠性。他在半導體產業擁有超過30年的經驗。他之前的經驗涵蓋製造和研發領域的製程整合和裝置工程、良率工程以及測試平台和測試結構。他目前的研究興趣集中在可靠性工具和方法、可靠性設計以及用於品質和可靠性的數據科學和機器學習。
可靠度研發 - 恩智浦半導體
