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Mehul Shroff

Mehul Shroff es miembro y Master Black Belt de Six Sigma en NXP Semiconductors, donde se centra principalmente en la fiabilidad de la tecnología CMOS avanzada y la memoria no volátil (NVM). Cuenta con más de 30 años de experiencia en la industria de los semiconductores. Su experiencia previa abarca la integración de procesos y la ingeniería de dispositivos en fabricación e I+D, la ingeniería de rendimiento y los sistemas y estructuras de prueba. Actualmente, sus intereses se centran en herramientas y metodologías de fiabilidad, diseño para la fiabilidad y ciencia de datos y aprendizaje automático aplicados a la calidad y la fiabilidad.

Investigación y desarrollo en fiabilidad - NXP Semiconductors

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