Mehul Shroff 是恩智浦半导体公司的资深研究员和六西格玛黑带大师，主要专注于先进CMOS和非易失性存储器（NVM）的可靠性。他在半导体行业拥有超过30年的经验。他之前的经验涵盖制造和研发领域的工艺集成和器件工程、良率工程以及测试平台和测试结构。他目前的研究兴趣集中在可靠性工具和方法、可靠性设计以及用于质量和可靠性的数据科学和机器学习。
可靠性研发 - 恩智浦半导体
