Mehul ShroffMehul Shroff è Fellow e Six Sigma Master Black Belt presso NXP Semiconductors, dove si occupa principalmente di affidabilità di CMOS avanzato e NVM. Vanta oltre 30 anni di esperienza nel settore dei semiconduttori. Le sue precedenti esperienze includono l'integrazione di processi e l'ingegneria di dispositivi in ambito produttivo e di ricerca e sviluppo, l'ingegneria della resa produttiva e la progettazione di veicoli e strutture di test. I suoi interessi attuali si concentrano su strumenti e metodologie per l'affidabilità, la progettazione per l'affidabilità e la scienza dei dati e l'apprendimento automatico per la qualità e l'affidabilità.
Ricerca e sviluppo sull'affidabilità - NXP Semiconductors
