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Mehul Shroff

Mehul Shroff ist Fellow und Six Sigma Master Black Belt bei NXP Semiconductors und spezialisiert auf die Zuverlässigkeit von Advanced-CMOS- und NVM-Technologien. Er verfügt über mehr als 30 Jahre Erfahrung in der Halbleiterindustrie. Zu seinen früheren Tätigkeiten zählen Prozessintegration und Bauelemententwicklung in Fertigung und Forschung & Entwicklung, Ausbeuteoptimierung sowie Testsysteme und -strukturen. Aktuell konzentriert er sich auf Zuverlässigkeitswerkzeuge und -methoden, zuverlässiges Design sowie Data Science und maschinelles Lernen für Qualität und Zuverlässigkeit.

Zuverlässigkeitsforschung und -entwicklung – NXP Semiconductors

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