Mehul ShroffMehul Shroff est expert Six Sigma et Master Black Belt chez NXP Semiconductors, où il se spécialise dans la fiabilité des technologies CMOS avancées et des mémoires non volatiles (NVM). Il possède plus de 30 ans d'expérience dans l'industrie des semi-conducteurs. Son expérience antérieure couvre l'intégration des procédés et l'ingénierie des dispositifs en production et en R&D, l'ingénierie du rendement, ainsi que les bancs d'essai et les structures de test. Ses intérêts actuels portent sur les outils et méthodologies de fiabilité, la conception pour la fiabilité, et l'application des sciences des données et de l'apprentissage automatique à la qualité et à la fiabilité.
Recherche et développement en matière de fiabilité - NXP Semiconductors
