假設您希望更新製造流程中某些參數的規格限值，以尋找可能更合適的限值。找到此類限制的一種方法是計算這些參數的公差區間 (TI)。 TI 認為未來結果的比例在限制範圍內。由於未來的結果顯然是未知的，計算也需要預先定義的置信水準。不同的置信水準和比例組合會導致不同的 TI。
JMP 的一個很好的功能是能夠將規格限制新增為列屬性，以便用於製程能力分析並將其顯示在圖表上。然而，TI 缺乏類似的屬性。比較規格限值和 TI 限值的一種方法是手動將 TI 限值新增至圖表中，以便兩者都顯示在該圖表上。對於單一參數這樣做是合理的，但如果有十幾個或兩個參數需要探索，該怎麼辦呢？在這種情況下，這可能會變得繁瑣且耗時，特別是如果您想要探索具有多種比例和置信度組合的不同 TI 集合時。
將 TI 作為列屬性的能力，將允許輕鬆地對限制集進行比較。目前，在 JMP 中，可以將計算出的 TI 儲存為規格限值，但不能將兩個間隔作為單獨的列屬性，因為將 TI 儲存為規格限值會刪除任何現有限值。
我已經針對此請求開啟了一個案例，但希望聽到其他用戶對此建議的意見，謝謝。
感謝@Oren_Barilan提交此請求。希望聽到其他用戶的想法。
