Un contrôle précis des paramètres de production est essentiel. JSR Micro NV gère des lots comportant de 20 à 400 paramètres pour une centaine de produits différents. Par ailleurs, les matières premières doivent également être contrôlées.
La plupart de nos données sont stockées dans la base de données SAP HANA et l'historien de données OSI PI. JMP interroge les données de SAP HANA via un pilote ODBC et accède directement au serveur OSI PI. Grâce à JMP Live, nous bénéficions d'un accès continu aux données les plus récentes de ces bases de données.
JMP nous offre une flexibilité totale dans le traitement et l'utilisation des données selon nos besoins. Ce processus simplifie le suivi et améliore notre efficacité opérationnelle et notre contrôle qualité.
Bonjour. Je suis Ruben Lenaerts. Je vais vous expliquer comment nous avons utilisé JMP Live chez JSR Micro pour automatiser les cartes de contrôle de nos produits finis. Chez JSR Micro, en Belgique, nous fabriquons une centaine de produits différents, et nous devons contrôler chacun d'eux. De plus, nous devons également contrôler toutes les matières premières utilisées pour leur fabrication.
Un seul produit comporte entre 20 et 400 paramètres différents. Cela signifie que nous devons quotidiennement examiner de nombreux graphiques de contrôle et assurer un suivi rigoureux des matériaux. Pour ce faire, nous utilisons JMP Live, et je vais vous montrer comment nous procédons. La plupart de nos données sont déjà stockées dans la base de données SAP 4HANA. De plus, nous disposons également de données dans l'historien de données OSI PI.
Notre équipe de production utilise directement le système OSI PI. Elle assure un suivi continu des cuves et de tous les paramètres de production à partir des cartes de contrôle d'OSI PI. Concernant les produits finis, toutes les mesures de contrôle qualité sont stockées dans notre base de données SAP 4HANA, ce qui nous permet d'accéder en permanence aux données les plus récentes. Nous maîtrisons également parfaitement les rapports que nous générons et le traitement de ces données.
JSR est une entreprise fondée en 1957 au Japon. C'est une multinationale japonaise qui emploie environ 8 000 personnes. Leurs activités sont principalement liées à la chimie organique. L'entreprise possède une division de fabrication de polymères, une division des sciences de la vie et, dans laquelle je travaille, la division des semi-conducteurs.
Pour en savoir plus sur le secteur des semi-conducteurs dans lequel nous travaillons, nous fabriquons de la résine photosensible. Si vous avez une plaquette de silicium ou de carbure de silicium, par exemple, et que vous souhaitez y réaliser des motifs, vous commencez par y déposer une couche de résine photosensible. Cette résine peut ensuite être exposée pour former les motifs nécessaires à la fabrication du dispositif souhaité.
Chez NV, en Belgique, nous produisons des motifs KrF et EUV. L'échelle EUV permet de réaliser des motifs inférieurs à 14 nanomètres. Un cheveu humain mesure 100 000 nanomètres, ce qui illustre l'extrême finesse de la gravure. À cette échelle, plusieurs facteurs sont essentiels. Par exemple, la résine photosensible ne doit contenir ni particules ni métaux en grande quantité, car ces derniers perturbent le comportement des structures et peuvent engendrer des défauts. Il est également crucial de maîtriser les paramètres fonctionnels, tels que l'épaisseur et la sensibilité du film de résine. Après exposition, ces paramètres déterminent la latitude et la structure finales. Pour contrôler l'ensemble de ces paramètres, nous utilisons JMP Live.
Comment procéder ? Je vais vous le montrer. Tout d'abord, nous avons besoin d'un accès direct aux données de la base de données contenant les produits finis. Comme tout se trouve dans SAP, nous pouvons utiliser le pilote ODBC, directement utilisable dans JMP avec le générateur de requêtes, comme ici. Vous pouvez également l'intégrer par script dans du code JSR ou encore utiliser un script Python. Peu importe la méthode choisie. Ces trois méthodes permettent d'accéder aux données les plus récentes de la base de données SAP 4HANA.
De plus, nous disposons également des données de certificat d'analyse (CoA) des matières premières et des produits finis dans SAP, des limites de contrôle interne et des limites client. Toutes ces données sont accessibles via le pilote ODBC dans JMP. Il est ensuite nécessaire de créer les cartes de contrôle statistique des processus (SPC). Chaque client a sa propre interprétation du SPC de nos produits. Nous souhaitons adopter la même approche que nos clients afin d'être sur la même longueur d'onde.
Pour ce faire, ils calculent les cartes de contrôle sans tenir compte du dernier lot, car c'est ce dernier qu'ils souhaitent évaluer. Ensuite, ils effectuent le contrôle statistique des procédés (CSP) uniquement sur les 20 derniers lots, les lots plus anciens étant moins représentatifs du fonctionnement actuel du processus. De plus, ils peuvent définir des règles CSP supplémentaires, comme par exemple la règle 2 ou la règle 3. Tous ces éléments sont entièrement configurables lors de la programmation dans JMP.
Si vous disposez des données et que vous avez effectué les calculs, vous pouvez générer les rapports. Pour ce faire, nous créons un rapport par lot pour chaque lot produit. Ce rapport comporte un onglet, donc une feuille, regroupant tous les graphiques de contrôle des paramètres hors spécifications, hors contrôle ou présentant une violation des règles 2 et 3. Vous obtenez ainsi un aperçu rapide des éléments problématiques de ce lot.
De plus, vous disposez de deux autres onglets : l’un affiche les cartes de contrôle des 20 derniers lots, et l’autre celles de tous les lots produits pour ce produit. En cas d’anomalie, vous pouvez consulter immédiatement les cartes de contrôle des 20 derniers lots et suivre leur évolution pour observer les tendances à long terme. Par ailleurs, un rapport est généré et disponible sur le lecteur partagé ; l’équipe de production peut ensuite l’intégrer aux dossiers de données.
Je vais ensuite vous montrer à quoi cela ressemble dans JMP Live. Voici un exemple de rapport SPC dans JMP Live. Il s'agit, bien sûr, d'un matériau fictif avec des paramètres fictifs. Vous pouvez constater que pour ce produit, par exemple, le paramètre AA est hors contrôle, mais conforme aux spécifications. Celui-ci est également hors contrôle. Vous avez ainsi un premier aperçu des paramètres hors contrôle. Ce paramètre-ci, par exemple, est hors spécifications.
Si vous souhaitez obtenir plus d'informations sur vos paramètres, par exemple si le paramètre AA est lié à un autre paramètre, vous pouvez consulter l'onglet répertoriant tous les paramètres et observer le comportement d'un paramètre associé, tel que AC. Ce rapport est mis à jour toutes les 5 minutes si de nouvelles données sont disponibles. Dans le cas contraire, il reste inchangé. Un seul rapport regroupe toutes les données disponibles pour ce matériau. Nous générons ensuite ces rapports pour tous les matériaux que nous produisons.
Pour conclure sur la mise en place de l'automatisation de nos cartes de contrôle pour les produits finis avec JMP Live, il est primordial d'organiser vos données. Celles-ci doivent être organisées dans une base de données propre et structurée. Dans notre exemple, il s'agissait de SAP 4/HANA. Il est également recommandé d'implémenter une validation des données. Chez nous, toutes les données saisies font l'objet d'une double vérification afin de garantir leur exactitude. Sans cela, vos analyses pourraient être faussées. Vous pouvez ensuite automatiser la génération des rapports. Celle-ci utilise l'outil d'analyse spécifique de votre client ou de votre entreprise, ce qui vous offre une totale liberté grâce à JSR. Enfin, vous pouvez les mettre à la disposition de tous les utilisateurs de votre entreprise.
Je tiens à remercier toutes les personnes qui ont contribué à ce projet. Plus précisément, les membres de mon entreprise ainsi qu'une personne de la chaîne de valeur qui nous a aidés à installer le pilote ODBC sur SAP. Merci de votre attention.
