Definieren-Messen-Analysieren-Verbessern-Kontrollieren ist eine Six Sigma-Methode, die verwendet wird, um methodisch die fünf Phasen zu durchlaufen, um eine Lösung für Verarbeitungsprobleme bei der Back-End-Montage von Halbleiterchips zu finden. In jeder Phase werden Daten gesammelt und JMP wird verwendet, um die Daten zu beschreiben und Rückschlüsse auf die Wirksamkeit von Maßnahmen und Faktoren zu ziehen, um die Ertragstrends in Richtung eines Ziels zu bewegen.
In der Definitionsphase mit den wichtigsten Beiträgen zur Projektcharta erzeugt JMP Graph Builder mithilfe von Zeitreihendiagrammen und Balkendiagrammen die Notwendigkeit der Annäherung an ein SMART-Ziel.
In JMP sind Pareto-Diagramme, Linearität und Bias, Gauge R&R und Prozessfähigkeitsanalyse die wichtigsten Werkzeuge, die in der Messphase verwendet werden. Geeignete Stichprobengrößen werden ausgewählt, um den Konfidenzniveaus der erwarteten Ergebnisse zu entsprechen.
Hypothesentests, sowohl in Proportionen als auch in Mittelwerten für parametrische und nichtparametrische Verteilungen, sind die wichtigsten Werkzeuge, die in der Analysephase verwendet werden. Die Gleichheit der Varianz hilft, die Robustheit eines Prozesses zu verstehen.
JMP DOE ist das Hauptwerkzeug in der Verbesserungsphase, wobei Zeitreihendiagramme zur Überwachung der ersten kurzfristigen Pilotchargen verwendet werden.
Schließlich werden JMP-Kontrollkarten verwendet, um die Trends nach der Einführung der Prozessverbesserungen zu überwachen.
