JMP 從先前的版本開始就擁有強大的控制圖繪製功能，並且在最近的更新中進一步擴展了這些功能。
本影片系列將介紹在 JMP 中建立控製圖的基本操作，以及測量值控製圖和計數值控製圖的特點和建立方法。
您可以使用 JMP 範例資料來嘗試本影片中顯示的操作。
可以從 JMP 功能表列中選擇[幫助] > [範例索引]並搜尋範例資料名稱來找到範例資料。
*本影片使用製作時可用的最新版本（JMP 18.0.1）。
第一部分：在 JMP 中建立控製圖的基本操作
第一部分：在 JMP 中建立控制圖的兩種方法（8 分 46 秒）
在 JMP 中建立控製圖有兩種方法：
- 使用“控製圖產生器”
- 從選單中選擇要建立的控製圖。
接下來我將解釋這兩種方法的操作方法和特點。
第二部分：控制圖測試和選項設定（10分25秒）
本文檔解釋如何使用 WER（西部電氣規則）應用規則來偵測控製圖中的特定趨勢，並描述了以下控製圖的設定。
- 建立 XBar-S 控製圖
- 在控製圖上顯示限值。
- 保存摘要
- 設定管理限制（右鍵單擊，列屬性）
第二部分：測量值的管制圖（11分56秒）
本節解釋用於連續資料（定量資料）的控製圖。
- IMR（個體測量範圍）控製圖
- 使用 Levey-Jennings 方法的控制圖（控制限是使用標準差 σ 計算的）。
- 運行圖
- 三因素控制圖（一種同時考慮組內變異性和組間變異性的控制圖）
第三部分：計數控製圖（16 分 25 秒）
以下解釋了用於離散資料（計數資料）的控製圖。計數資料控製圖主要用於諸如缺陷產品數量及其頻率之類的資料。
第四部分：累積和（CUSUM）控制圖、指數加權移動平均（EWMA）控制圖（10分24秒）
累積和控制圖和指數加權移動平均控製圖是用於檢測過程中微小變化的控製圖。它們能有效及早發現製程異常，有時甚至可以偵測到均值控製圖或中間均值控製圖無法偵測到的變化。
累積和 (CUSUM) 控製圖：繪製子組平均值與目標值偏差的累積和的控制圖。
EWMA 控製圖：指數加權移動平均控製圖（使用對最近觀測值賦予權重的移動平均）。
第五部分：基於模型的多變量控製圖（7分37秒）
多元控製圖可讓您同時監控多個製程參數。在 JMP 中，您可以使用「基於模型的多元控製圖」平台，基於主成分分析模型或 PLS 迴歸模型建立控制圖。該平台還允許您以互動方式探索導致系統超出控制限的因素。
参考、補足事項
在第二部分中關於測量值控製圖的基礎上，JMP 18 新增了名為「短期運行控製圖」的控製圖，該圖適用於使用相同設備生產多種產品的製程控制。詳情請觀看下方影片。
JMP 18 新功能輔助業務運作 ~分析與圖表（日文）~ - JMP 使用者社區
有關控製圖測試（西電規則）的詳細信息，請參閱以下手冊中的相關章節。
選項面板和右鍵選單中可用選項 (jmp.com)
