Las pruebas de vida acelerada (ALT) son necesarias para evaluar la confiabilidad del producto de piezas que deben funcionar bien durante largos períodos de tiempo. Debido a las bajas tasas de fallas en condiciones operativas, las piezas deben probarse con cargas elevadas para que las fallas ocurran en un período de tiempo razonable. Los dispositivos que requieren dichos análisis de confiabilidad incluyen dispositivos médicos, circuitos semiconductores, dispositivos de aviación y más. Aprenda a analizar datos de pruebas aceleradas para predecir la vida operativa de pruebas de carga constante únicas y múltiples y pruebas de carga creciente.
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Aquí está el enlace al JMP de masterización de inglés al que me referí al comienzo de la presentación:Profundizando en las pruebas de vida acelerada para la confiabilidad del producto
Aquí está el enlace al análisis de datos de pruebas de fatiga utilizando el tutorial para desarrolladores de JMP . Y aquí está el tutorial para desarrolladores de CSALT: Pruebas de vida aceleradas con estrés constante
