Beschleunigte Lebensdauertests (ALT) sind für die Bewertung der Produktzuverlässigkeit von Teilen erforderlich, die über lange Zeiträume hinweg gut funktionieren müssen. Aufgrund der niedrigen Ausfallraten unter Einsatzbedingungen müssen Teile bei hohen Belastungen getestet werden, damit Ausfälle in einer angemessenen Zeitspanne auftreten. Zu den Geräten, die solche Zuverlässigkeitsanalysen erfordern, gehören medizinische Geräte, Halbleiterschaltungen, Luftfahrtgeräte und mehr. Erfahren Sie, wie Sie beschleunigte Testdaten analysieren können, um die Lebensdauer unter Einsatzbedingungen sowohl für Einzel- und Mehrfachtests mit konstanter Belastung als auch für Tests mit ansteigender Belastung vorherzusagen.
Hier ist der Link auf das englische Mastering JMP auf das ich zu Beginn der Präsentation verwiesen habe: Diving Into Accelerated Life Testing for Product Reliability
Hier ist der Link auf das Analyzing Fatigue Testing Data using JMP Developer Tutorial. Und hier das zum CSALT Developer Tutorial: Constant Stress Accelerated Life Testing
