Les tests de durée de vie accélérés (ALT) sont nécessaires pour évaluer la fiabilité des produits qui doivent fonctionner correctement sur de longues périodes. En raison des faibles taux de défaillance dans les conditions opérationnelles, les pièces doivent être testées sous des charges élevées afin que les défaillances se produisent dans un délai raisonnable. Les appareils qui nécessitent de telles analyses de fiabilité comprennent les appareils médicaux, les circuits semi-conducteurs, les appareils aéronautiques, etc. Apprenez à analyser les données de tests accélérés pour prédire la durée de vie opérationnelle des tests de charge constante simples et multiples ainsi que des tests de charge croissante.
Voici le lien vers l’English Mastering JMP auquel j’ai fait référence au début de la présentation :Plongée dans les tests de durée de vie accélérés pour la fiabilité des produits
