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精確定位並減少缺陷

了解如何：

• 將空間缺陷資料減少到幾個關鍵聚類
• 將簇和孤立缺陷與製造過程關聯起來，為製程改進提供方向

了解如何：

• 透過從缺陷的 2D 視圖到 3D 視圖來檢查多維缺陷
• 使用 3D 散點圖直觀地探索 3D 視圖

資源

• 聚類視頻
• 多元分析和聚類視頻
• 霍夫變換特徵提取技術的背景
• JMP 半導體工具包插件，用於建立晶圓圖
• 探索高峰會影片：所有晶圓圖都是錯誤的：半導體資料視覺化的冒險

品質與工藝工程