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Identificación y reducción de defectos

Vea cómo:

• Reducir los datos de defectos espaciales a unos pocos grupos clave
• Correlacionar grupos y defectos aislados con el proceso de fabricación para orientar las mejoras del proceso.

Vea cómo:

• Examine defectos multidimensionales pasando de una vista 2D a una 3D del defecto
• Explora visualmente vistas 3D usando Scatterplot 3D

Recursos

• Vídeos de agrupamiento
• Vídeos de análisis multivariado y agrupamiento
• Antecedentes de la técnica de extracción de características mediante la transformada de Hough
• Complemento del kit de herramientas JMP Semiconductor para crear mapas de obleas
• Video de Discovery Summit: Todos los mapas de obleas son erróneos: Una aventura en la visualización de datos de semiconductores

Ingeniería de Calidad y Procesos