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결함을 정확히 찾아내고 줄이기

방법을 확인하세요:

• 공간 결함 데이터를 몇 개의 주요 클러스터로 축소
• 제조 공정에 클러스터 및 분리된 결함을 연관시켜 공정 개선 방향을 제시합니다.

방법을 확인하세요:

• 결함의 2D 보기에서 3D 보기로 전환하여 다차원 결함을 조사합니다.
• Scatterplot 3D를 사용하여 3D 뷰를 시각적으로 탐색하세요

자원

• 비디오 클러스터링
• 다변량 분석 및 클러스터링 비디오
• 허프 변환 특징 추출 기술에 대한 배경 지식
• 웨이퍼 맵을 생성하기 위한 JMP Semiconductor Tool Kit 추가 기능
• Discovery Summit 비디오: 모든 웨이퍼 맵은 틀렸다: 반도체 데이터 시각화의 모험

품질 및 공정 엔지니어링