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欠陥の特定と削減

方法をご覧ください:

• 空間欠陥データをいくつかの重要なクラスターに削減する
• クラスターと個別の欠陥を製造プロセスと相関させて、プロセス改善の方向性を決定します。

方法をご覧ください:

• 欠陥を2Dビューから3Dビューに移行して多次元欠陥を検査します
• Scatterplot 3D を使用して 3D ビューを視覚的に探索する

リソース

• ビデオのクラスタリング
• 多変量解析とクラスタリングのビデオ
• ハフ変換特徴抽出技術の背景
• ウェーハマップを作成するためのJMP半導体ツールキットアドイン
• ディスカバリーサミットビデオ：すべてのウェーハマップは間違っている：半導体データ可視化の冒険

品質およびプロセスエンジニアリング