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Individuazione e riduzione dei difetti

Scopri come:

• Ridurre i dati sui difetti spaziali a pochi cluster chiave
• Correlare cluster e difetti isolati al processo di produzione per fornire indicazioni per i miglioramenti del processo

Scopri come:

• Esaminare i difetti multidimensionali passando da una vista 2D a una 3D del difetto
• Esplora visivamente le viste 3D utilizzando Scatterplot 3D

Risorse

• Raggruppamento di video
• Video di analisi multivariata e clustering
• Informazioni di base sulla tecnica di estrazione delle caratteristiche della trasformata di Hough
• Componente aggiuntivo del kit di strumenti per semiconduttori JMP per la creazione di mappe wafer
• Video del Discovery Summit: tutte le mappe dei wafer sono sbagliate: un'avventura nella visualizzazione dei dati dei semiconduttori

Ingegneria della qualità e dei processi