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Fehler lokalisieren und reduzieren

Erfahren Sie, wie Sie:

• Reduzieren Sie räumliche Defektdaten auf wenige Schlüsselcluster
• Korrelieren Sie Cluster und isolierte Defekte mit dem Herstellungsprozess, um eine Richtung für Prozessverbesserungen vorzugeben

Erfahren Sie, wie Sie:

• Untersuchen Sie mehrdimensionale Defekte, indem Sie von einer 2D- zu einer 3D-Ansicht des Defekts wechseln
• Visuelle Untersuchung von 3D-Ansichten mit Scatterplot 3D

Ressourcen

• Videos gruppieren
• Videos zur multivariaten Analyse und Clusterung
• Hintergrundinformationen zur Merkmalsextraktionstechnik der Hough-Transformation
• JMP Semiconductor Tool Kit-Add-In zum Erstellen von Wafer-Maps
• Discovery Summit-Video: Alle Wafer-Maps sind falsch: Ein Abenteuer in der Halbleiterdatenvisualisierung

Qualitäts- und Prozesstechnik