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Identification et réduction des défauts

Découvrez comment :

• Réduire les données de défauts spatiaux à quelques groupes clés
• Corréler les clusters et les défauts isolés au processus de fabrication afin de donner une direction pour les améliorations du processus

Découvrez comment :

• Examiner les défauts multidimensionnels en passant d'une vue 2D à une vue 3D du défaut
• Explorez visuellement les vues 3D à l'aide de Scatterplot 3D

Ressources

• Regroupement de vidéos
• Vidéos sur l'analyse multivariée et le clustering
• Contexte de la technique d'extraction de caractéristiques par transformation de Hough
• Module complémentaire JMP Semiconductor Tool Kit pour la création de cartes de plaquettes
• Vidéo du Discovery Summit : Toutes les cartes de plaquettes sont erronées : une aventure dans la visualisation des données sur les semi-conducteurs

Ingénierie de la qualité et des procédés