影片於 2024 年 7 月 15 日使用 JMP 18 更新。
JMP 讓您能夠部署互動式品質和 SPC 功能，以識別隨時間推移的流程變化，確定流程是否穩定且可預測，並追蹤調整異常變化的影響。
了解如何：
- 了解如何部署 JMP 的互動式品質和 SPC 功能
- 識別隨時間推移的常規（常見原因）和異常（特殊原因）過程變化
- 衡量流程相對於給定規格限值的執行情況
- 輕鬆探索大量流程隨時間變化的穩定性和能力指標
- 輕鬆比較流程變更前後的穩定性數據
- 了解使用基礎知識
- 控製圖產生器
- 流程能力
- 管理規格限制
- 工藝篩選
- 帶階段的屬性和變數控製圖
- 帕累托圖
Christian Stopp @jmpstopper和 Mike Anderson @MikeD_Anderson在現場演示中回答了問題：
Q：有時我們有興趣查看過去 x 週、幾個月等的製程能力參數，例如 Cpk。您對實現這一目標有什麼建議？
答：在本機表中，紅色三角形下的本機資料篩選器允許對資料進行子集化，並根據其他列資料（例如資料週期）重新計算指標。如果您按照資料管道的思路思考，JMP 的查詢產生器也可以 ping ODBC 相容資料庫並進行對應的過濾。
Q：為什麼 PC 互動工具不包含 Cpk？
答：見下文。如果有興趣建議此功能，請將其提交至JMP 願望清單。
Q：過程能力分析是 JMP 18 特有的嗎？即使在資料表中設定規格限制時，我也沒有在 JMP 17 的控製圖產生器中看到此功能。
答：請記住將規格限值加為“規格限值”，而不是參考線。
Q：可以使用警報設定在即時數據上使用過程篩選嗎？
答：如果您有 JMP Live 並將控製圖放在那裡，JMP Live 內建有一個警報系統，當有新警報時它會向您發送電子郵件，然後您可以設定刷新率。刷新率取決於您推送到控製圖中的資料量、資料通道數以及需要的處理量。
Q：我可以使用不同的規格限值來計算不同的變數嗎？
答：如果您有不同的規格限制，則表示您的流程中存在 2 個不同等級的差異。一般來說，每列資料處理一個規格限制是首選的歷史方法。如果它們具有相同的底層流程但產品不同，則您可以使用短期控製圖。您可以開啟「短控製圖」選項，然後選擇「零件」指派給具有不同控制限的不同產品，這些產品可能存在於相同的處理能力中。但是，指定此分析相當棘手，並且會為創建 Cpk 和確定控制限度的來源帶來問題。見下文。
Q：我可以查看分佈嗎？
答：例如，如果您嘗試對產量進行控製圖，那麼是否應該這樣做是值得懷疑的。但如果你必須做這樣的事情。您可以直接轉到製程能力並選擇分佈選項。請見下文：
之前現場會議中回答的問題：
Q：控製圖本身能否顯示平均值，就像變異圖通常顯示的那樣？
答：是的。當您使用子組時會顯示這些。
Q：過程能力直方圖中的內部和整體之間有什麼區別？
答：當您定義了一個子組時，將顯示子組內的值。總體將是整個資料集的值。 Within 用來計算 Cpk，Overall 用來計算 Ppk。內部用於觀察短期變化，基於子組大小，而整體用於觀察隨時間的變化。
另一種思考方式是考慮用於計算 Cpk 與 Ppk 的 sigma 值，因為這是這兩個統計數據之間的本質差異（它們的數學公式是相同的）。
用於計算 Cpk 的 sigma「組內」估計值實際上是控制圖繪製練習中定義的每個子組的 sigma 的均方根誤差 (RMSE)。對於單值和移動範圍 (I-MR) 圖表，「組內」 sigma 估計值是透過考慮每個觀測值與其先前觀測值之間的相對差異來計算的（這就是我們所說的「MR」）。
用於計算 Ppk 的 sigma「總體」估計值不考慮子分組。相反，它考慮的是相對於總體平均值的每個單獨數據構成的均方根誤差。另一種思考方式是，總體估計假設子組大小為 1；標準差是根據整個資料集計算的，將其視為一個整體組（不細分）。
查看統計詳情。
Q：我總是必須尋找 Cp、Pp、Cpk、Ppk 的指南，因為我並不常使用它們。我可以根據提示對表格中的值進行顏色編碼，就像控製圖中的紅色/黃色/綠色一樣？
答：JMP 的首選項（Mac 上的 JMP > 首選項或 PC 上的檔案 > 首選項）中有一些選項可以進行上下文著色，您可以探索一下。
Q：您認為 IMR 圖表與 Xbar-R 或 Xbar-S 之間有什麼區別（因為 JMP 根據資料類型區分它們）？
答：IMR 採用單獨測量。 R 使用具有可變範圍的子組平均值。 S 僅使用標準差。
Q：從 R 圖表切換到 S 圖表時建議的子組大小是多少？
答：據我所知沒有。這更多的是關於如何量化數據集中的變化。
Q：S 圖表和 R 圖表有什麼區別？
答：S = 標準差，R = 範圍。另請參閱此處的文件： https://www.jmp.com/support/help/en/17.1/#page/jmp/shewhart-control-charts-for-variables.shtml
Q：我可以使用控制圖產生器繪製 Levey Jennings 控制圖嗎？
答：是的。這只是對圖表屬性中 IMR 圖表中變異性方法的更改。
Q：除了規格限制之外，有沒有辦法批次載入控制限制？
答：指定控制限值的「取得限值」方法是最靈活的。您應該在下列情況下使用此方法：1) 如果您對許多不同的流程都有控制限值 2) 如果您對每個階段都有不同的控制限值（請參閱指定多組控制限值）。當然，要使用取得限制方法，您需要一個定義歷史限制的資料表。 查看詳情。 https://www.jmp.com/support/help/en/17.1/#page/jmp/example-of-control-limits.shtml#ww1831927
Q：我可以讓 x 軸顯示實際日期嗎？
答：可以變更顯示的格式或使用日期作為 X 值，具體取決於資料的輸入方式。
Q：我可以設定資料篩選限制來剔除錯誤的測試資料嗎？
答：是的。您可以在控制圖上放置本機資料篩選器來實現這一點。
Q：您能向我們展示一種匯入多個流程的控制限值的方法嗎？
答：一般來說，要計算控制限。實際上，沒有辦法在列屬性中批次覆蓋它。您可以在 J MP 願望清單中請求管理限制的支援。
Q：當您進行重複測量時（例如，對儀器的性能進行隨時間推移的評估），可以使用這個平台嗎？或者您是否需要使用專門為重複分析同一單元而設計的平台（而不是在不同時間生產的不同單元？我正在考慮儀器隨著時間的推移而變得不那麼準確（或不那麼精確）的情況。
答：如果您正在測量光譜儀的標準參考或類似的東西，您可以使用控製圖。 CUSUM 圖表適合觀察過程隨時間的變化。
Q：在流程篩選中，分組和「group by」有什麼不同？
答：當您想要在分組變數的每個等級組合上分析每個過程變數時，請使用分組。結果呈現在一份報告中。因此，分組功能可讓您將一個頻道分成多個子頻道。例如，當您有一個資料集，並且該資料集中包含多個附加工具時，您可以使用分組將其剪掉。 （分組）依據針對其層級定義單獨分析的欄位。對於指定列的每個級別，使用您指定的其他變數來分析相應的行。結果以單獨的表格和報告形式呈現。如果分配了多個 By 變量，則會對 By 變數層級的每個可能組合進行單獨的分析。
Q：穩定性指數如何計算？
答：您可以在這裡找到公式。
Q：您如何描述 Within Sigma 和 Overall Sigma 的差異？
答：Within用於計算Cpk，Overall用來計算Ppk。內部用於觀察短期變化，基於子組大小，而整體用於觀察隨時間的變化。 查看詳情。
問；我如何表明規格限制在某個時間點發生了變化？我是否能夠根據每次有效的限制來評估一段時間內的表現？
答：您可以新增「階段」列並將不同的規格限制與不同的階段關聯。
Q：我認為過程篩選假設每個過程品質特性都具有常態分佈。例如，我的 117 個流程中有一些是非正態的，我必須篩選所有 117 個流程並在列屬性中分配分佈。正確的？
答：是的。您可以使用標準化屬性來快速完成此操作。
另一種不需要手動篩選的方法是使用製程能力平台，根據 117 個品質特性中每個特性的最佳擬合分佈來識別和計算 Ppk。您可以使用啟動對話方塊下的最佳擬合選項並將其指派給每一列，然後按一下「確定」執行分析。除了 Johnson Fit 之外的所有情況下，都使用最大似然法來擬合該平台中可用的分佈，並選擇具有最高負對數似然的分佈作為最佳擬合。另一種選擇是使用非參數方法計算一個或多個特徵的 Ppk。欲了解更多信息，請查閱此處的幫助文件。
Q：目標圖上的顏色代表什麼意思？
答：它們與Cpk有關。您可以使用問號圖示（？）在這裡找到值，這將帶您進入上下文文檔，您可以在其中找到問題的答案。在這種情況下，調查發現：
當您選擇陰影等級時，陰影區域會出現在 陰謀。 陰影區域取決於 頁 和 Ppk， 頁 表示 Ppk 下方格中顯示的值：
–紅色區域中的點的 Ppk < 頁
–黃色區域中的點有 頁 < 峰峰值 < 2 p 。
–綠色區域中的點有 2 p < 人均。
觀看此影片了解如何使用？使用 JMP 來獲得答案。
先前會議中關於此主題的問答：
Q：什麼是範圍圖？
答：範圍圖查看資料的運作範圍。您可以在控制圖產生器選項中將其轉換為標準差圖。
Q：Cpk 中的組內 Sigma 是如何決定的？
答：Cpk 是一種測量，用來顯示規格限值與流程中心之間的標準差是多少。 Cpk 指數是基於試圖僅捕捉常見原因變化的估計。 Cpk 指數是使用子組內或子組間和子組內的 sigma 估計值來建構的。透過這種方式，他們試圖反映真實的過程標準差。當製程不穩定時，不同的 sigma 估計值可能會有顯著差異。請參閱文件以了解更多詳細資訊。
Q：是否有缺少值代碼的查找表選項？
答：您可以在列屬性中定義多個缺失值代碼。您可以使用“標準化屬性”對多列執行此操作。您可以使用 JSL 手動建立查找表。
Q：規格限值表中的 LSL、目標和 USL 的名稱是否必須相同。例如，如果我有一個規格限製表，其中包含「下限」、「上限」和「目標」列名，這是否不起作用？
答：Manoints年齡規範限制工具確實需要這些名稱。流程篩選平台則不然。
Q：您能否修改/縮放子組軸以僅顯示最後 50 個批次，以便 IR/MR 圖表中的批次 ID 可讀？
答：是的。只需雙擊軸即可存取軸屬性。或者您可以像其他圖表一樣拖曳軸。一種方法是修改第一個圖形 X 軸，使用“編輯”>“複製軸設定”，然後按住控制鍵並使用“編輯”>“貼上軸設定”。
Q：我們可以定義自己的測驗嗎？
答：是的，有一個自訂測試選項。在控制圖產生器中，某些圖表類型的右鍵選單中提供「自訂測試」。它使您能夠設計自訂測試並一次選擇或取消選擇多個測試。選擇該選項後，將出現用於設計測試的「自訂測試」視窗。選擇測試描述並輸入所需的數字（n）和標籤。您可以將設定儲存到首選項並恢復預設設定。僅適用於變數和屬性圖表類型。請參閱文件以了解更多詳細資訊。
在流程篩選中，選擇測試可讓您選擇要包含在警報率和任何警報計算中的測試。若要選擇多個測試，請按 Alt 並點擊「流程篩選」紅色三角形以開啟所有平台選項的選單。請參閱文件以了解更多詳細資訊。
Customize Tests - Control Chart Builderr自訂測試 - 控製圖產生器自訂測試 - 控製圖產生器
Q：您對使用 Ppk 與 Cpk 有何看法？自從幾個版本之前的標籤改變以來，這一直是一個令人困惑的點。 JMP 中先前的 Cpk 現在是 Ppk。
A：是的，有點複雜。看看這個。以下是有關差異的更多詳細資訊。
Q：如何匯入分階段圖表的規格，其中不同階段具有獨特的規格？
答：目前，每個流程只能使用一組規格。您可能也會考慮使用流程篩選平台這種方法。
Q：如何產生具有規格限值的控製圖而不計算限值？
答：控制限值通常總是需要計算的。規格限制通常根據客戶要求設定。您可以使用列屬性設定控制限值。
Q：我注意到您的列屬性清單中有「偵測限制」選項。我無法使用這個。為什麼？
答：它是在 JMP Pro 16 中引入的，因此您需要 JMP Pro 16 版或更高版本。
Q：JMP 能幫助我使用歷史資料來建立規格限值嗎？
答：是的，您可以將分佈擬合到歷史數據，也可以使用互動式能力圖來探索改變規格限值的影響。
Interactive Capability Plot互動式能力圖互動式能力圖
Q：如何繪製兩個相鄰過程的管制圖？例如，我從 2020 年至今一直在使用流程 A，然後在 2022 年我對流程進行了更改，現在它是流程 B。我想連續繪製這些以顯示 Xbar 中的切換。
答：您可以使用階段和階段列值來做到這一點。以下是使用樣本資料中的 Diameter.jmp 的範例，建立一個圖表或多個單獨的圖表來顯示流程。
Q：控制限值和規格限值有什麼差別？
答：控制限度用於監控過程的變化，以查看變化是否在預期之內。規格限值與產品的能力有關，是客戶或利害關係人定義的公差水平。
資源：
