视频于 2024 年 7 月 15 日使用 JMP 18 更新。
JMP 让您能够部署交互式质量和 SPC 功能,以识别随时间推移的过程变化,确定过程是否稳定且可预测,并跟踪调整异常变化的影响。
了解如何:
- 了解如何部署 JMP 的交互式质量和 SPC 功能
- 识别随时间推移的常规(常见原因)和异常(特殊原因)过程变化
- 衡量流程相对于给定规格限值的执行情况
- 轻松探索大量流程随时间变化的稳定性和能力指标
- 轻松比较流程变更前后的稳定性数据
- 了解使用基础知识
- 控制图生成器
- 过程能力
- 管理规格限制
- 工艺筛选
- 带阶段的属性和变量控制图
- 帕累托图
Christian Stopp @jmpstopper和 Mike Anderson @MikeD_Anderson在现场演示中回答了问题:
问:有时我们有兴趣查看过去 x 周、几个月等的过程能力参数,例如 Cpk。您对实现这一目标有什么建议?
答:在本地表中,红色三角形下的本地数据过滤器允许对数据进行子集化,并根据其他列数据(例如数据周期)重新计算指标。如果您按照数据管道的思路思考,JMP 的查询生成器也可以 ping ODBC 兼容数据库并进行相应的过滤。
问:为什么 PC 交互工具中不包含 Cpk?
答:见下文。如果您有兴趣建议此功能,请提交至JMP 愿望清单。
问:过程能力分析是 JMP 18 独有的吗?我在 JMP 17 的控制图生成器中没有看到这个功能,即使在数据表中设置了规格限值也没有。
答:请记住将规格限值添加为“规格限值”,而不是参考线。
问:可以使用警报设置在实时数据上使用过程筛选吗?
答:如果您安装了 JMP Live 并将控制图放入其中,JMP Live 内置了警报系统,当新的警报出现时,它会向您发送电子邮件,然后您可以设置刷新率。刷新率取决于您要推送到控制图中的数据量、数据通道数量以及所需的处理量。
问:我可以使用不同的规格限值来计算不同的变量吗?
答:如果您有不同的规格限,则意味着您的流程中存在两种不同的方差水平。一般来说,每列数据处理一个规格限是首选的历史方法。如果它们具有相同的底层流程但产品不同,则可以使用短期运行控制图。您可以启用“短期控制图”选项,然后选择“零件”以将其分配给具有不同控制限的不同产品,这些产品可能存在于相同的处理能力范围内。但是,指定此分析相当棘手,并且会给创建Cpk和确定控制限的来源带来问题。请参见下文。


问:我可以查看分布吗?
答:例如,如果您尝试绘制成品率控制图,是否应该这样做尚有疑问。但如果必须这样做,您可以直接进入“过程能力”页面,选择分布选项。如下所示:
之前现场会议中回答的问题:
问:控制图本身能否显示平均值,就像变异图通常显示的那样?
答:是的。当您使用子组时,这些会显示出来。
问:过程能力直方图中的内部和整体之间有什么区别?
答:当您定义了一个子组后,“组内”将显示子组内值。“总体”将显示整个数据集的值。“组内”用于计算 Cpk,“总体”用于计算 Ppk。“组内”用于查看短期变化,基于子组规模,“总体”用于查看随时间的变化。
另一种思考方式是考虑用于计算 Cpk 与 Ppk 的 sigma 值,因为这是这两个统计数据之间的本质区别(它们的数学公式是相同的)。
用于计算 Cpk 的“组内”西格玛估计值实际上是控制图绘制过程中定义的每个子组西格玛的均方根误差 (RMSE)。对于单值图和移动极差 (I-MR) 图,“组内”西格玛估计值是通过考虑每个观测值与其前一个观测值之间的相对差异(这就是我们所说的“MR”)来计算的。
用于计算 Ppk 的“总体”西格玛估计值不考虑子组。相反,它考虑的是每个单独数据相对于总体平均值的均方根误差。另一种理解方式是,总体估计假设子组大小为 1;标准差是针对整个数据集计算的,将其视为一个整体组(未细分)。
查看统计详情。
问:我总是需要查阅 Cp、Pp、Cpk、Ppk 的指导原则,因为我不经常使用它们。我可以像控制图中的红/黄/绿那样,根据提示对表格中的值进行颜色编码吗?
答:JMP 的首选项(Mac 上的 JMP > 首选项或 PC 上的文件 > 首选项)中有一些选项可以进行上下文着色,您可以探索一下。
问:您认为 IMR 图表与 Xbar-R 或 Xbar-S 之间有什么区别(因为 JMP 根据数据类型区分它们)?
答:IMR 使用个体测量值。R 使用包含变异范围的子组均值。S 仅使用标准差。
问:从 R 图表切换到 S 图表时建议的子组大小是多少?
答:据我所知没有。这更多的是关于如何量化数据集中的变化。
问:S 图表和 R 图表有什么区别?
答:S = 标准差,R = 范围。另请参阅此处的文档: https://www.jmp.com/support/help/en/17.1/#page/jmp/shewhart-control-charts-for-variables.shtml
问:我可以使用控制图生成器绘制 Levey Jennings 控制图吗?
答:是的。这只是在图表属性中对IMR图表中的变异性方法进行了更改。


问:除了规格限制之外,有没有办法批量加载控制限制?
答:使用“获取限值”方法指定控制限值是最灵活的。您应该在以下情况下使用此方法:1) 如果您有多个不同过程的控制限值;2) 如果您为每个阶段设置了不同的控制限值(请参阅“指定多组控制限值”)。当然,要使用“获取限值”方法,您需要一个定义历史限值的数据表。 详情请参阅https://www.jmp.com/support/help/en/17.1/#page/jmp/example-of-control-limits.shtml#ww1831927
问:我可以让 x 轴显示实际日期吗?
答:可以更改显示的格式或使用日期作为 X 值,具体取决于数据的输入方式。
问:我可以设置数据筛选限制来剔除错误的测试数据吗?
答:是的。您可以在控制图上添加本地数据过滤器来实现这一点。
问:您能向我们展示一种导入多个流程的控制限值的方法吗?
答:通常情况下,应该计算控制限。目前在列属性中无法批量覆盖该值。您可以在 J MP 愿望清单中的“管理限制”中请求支持。
问:当您进行重复测量时(例如,对仪器的性能进行随时间推移的评估),可以使用这个平台吗?或者您是否需要使用专门为重复分析同一单元而设计的平台(而不是在不同时间生产的不同单元?我正在考虑仪器随着时间的推移变得不那么准确(或不那么精确)的情况。
答:如果您测量的是光谱仪的标准参考值之类的东西,可以使用控制图。累积和图非常适合观察过程随时间的变化。
问:在流程筛选中,分组和“group by”有什么区别?
答:当您希望在分组变量的每个级别组合上分析每个过程变量时,可以使用分组。结果显示在单个报告中。因此,分组功能使您能够将一个通道拆分为多个子通道。例如,当您收到一个数据集,该数据集附带多个工具,您可以使用分组功能将其裁剪出来。(分组)“按”用于定义级别单独分析的列。对于指定列的每个级别,将使用您指定的其他变量分析相应的行。结果显示在单独的表格和报告中。如果分配了多个“按”变量,则会针对“按”变量级别的每个可能组合生成单独的分析。

问:稳定性指数如何计算?
答:您可以在这里找到公式。
问:您如何描述 Within Sigma 和 Overall Sigma 之间的差异?
答:组内用于计算Cpk,组外用于计算Ppk。组内用于考察短期变异,基于子组规模;组外用于考察随时间推移的变异。 查看详情。
问:如何显示规格限制在某个时间点发生了变化?我能否根据当时有效的限制来评估一段时间内的性能?
答:您可以添加“阶段”列并将不同的规格限制与不同的阶段关联起来。
问:我认为流程筛选假设每个流程质量特性都服从正态分布。例如,我的117个流程中,有一些是非正态分布的,我必须筛选所有117个流程,并在列属性中指定分布。对吗?
答:是的。您可以使用标准化属性来快速完成此操作。
另一种无需手动筛选的方法是使用过程能力平台,根据 117 个质量特性中每个特性的最佳拟合分布来识别和计算 Ppk。您可以使用启动对话框下的“最佳拟合”选项,并将其分配给每一列,然后单击“确定”运行分析。除 Johnson 拟合外,所有情况下均使用最大似然法拟合该平台中可用的分布,并选择负对数似然最高的分布作为最佳拟合。另一种选择是使用非参数方法计算一个或多个特性的 Ppk。有关更多信息,请参阅此处的帮助文档。
问:目标图上的颜色代表什么意思?
答:它们与 Cpk 相关。您可以使用问号图标 (?) 在此处查找数值,该图标会将您带到上下文文档,您可以在其中找到问题的答案。在本例中,它找到了:
当您选择阴影级别时,阴影区域会出现在 阴谋。 阴影区域取决于 页 和 Ppk, 页 表示 Ppk 下方框中显示的值:
–红色区域中的点的 Ppk < 页
–黄色区域中的点有 页 < 峰峰值 < 2 p 。
–绿色区域中的点有 2 p < 人均。
观看此视频,了解如何在使用 JMP 时使用 ? 来获取答案。
之前会议中关于此主题的问答:
问:什么是范围图?
答:极差图查看数据的运行极差。您可以在控制图生成器选项中将其转换为标准差图。
问:Cpk 中的组内 Sigma 是如何确定的?
答:Cpk 指标用于衡量规格限值与过程中心之间的标准差。Cpk 指标基于一个估计值,该估计值试图仅捕捉常见原因变异。Cpk 指标使用子组内或子组间及子组内 sigma 估计值构建。通过这种方式,它们试图反映真实的过程标准差。当过程不稳定时,不同的 sigma 估计值可能会有显著差异。更多详细信息,请参阅相关文档。
问:是否有缺失值代码的查找表选项?
答:您可以在列属性中定义多个缺失值代码。您可以使用“标准化属性”为多个列执行此操作。您可以使用 JSL 手动创建查找表。
问:规格限值表中的 LSL、Target 和 USL 名称是否必须相同?例如,如果我的规格限值表中的列名为“Lower”、“Upper”和“Target”,这是否行不通?
答:Manoints年龄规格限值工具确实需要这些名称。但工艺筛选平台则不需要。
问:您能否修改/缩放子组轴以仅显示最后 50 个批次,以便 IR/MR 图表中的批次 ID 可读?
答:可以。只需双击轴即可访问轴属性。或者,您可以像处理其他图表一样拖动轴。一种方法是修改第一个图表的 X 轴,使用“编辑”>“复制轴设置”,然后按住 Control 键并使用“编辑”>“粘贴轴设置”。
问:我们可以定义自己的测试吗?
答:是的,有一个自定义测试选项。在控制图生成器中,某些图表类型的右键菜单中提供了“自定义测试”选项。它允许您设计自定义测试,并一次选择或取消选择多个测试。选择该选项后,将出现“自定义测试”窗口,用于设计测试。选择测试描述并输入所需的数量 (n) 和标签。您可以将设置保存到首选项并恢复默认设置。仅适用于变量和属性图表类型。有关更多详细信息,请参阅文档。
在“流程筛选”中,您可以通过“选择测试”功能选择要包含在“警报率”和“任何警报”计算中的测试。要选择多个测试,请按住 Alt 键并点击“流程筛选”红色三角形,以打开包含所有平台选项的菜单。更多详情,请参阅相关文档。
Customize Tests - Control Chart Builderr自定义测试 - 控制图生成器自定义测试 - 控制图生成器
问:您对使用 Ppk 和 Cpk 有什么看法?自从几个版本之前的标签更改以来,这一直是一个容易混淆的问题。JMP 中以前使用的 Cpk 现在变成了 Ppk。
答:是的,有点复杂。看看这个。这里有更多关于差异的细节。
问:如何导入分阶段图表的规格,其中不同阶段具有独特的规格?
答:目前,每个流程只能使用一套规范。您也可以考虑使用流程筛选平台。
问:如何生成具有规格限值的控制图而不计算限值?
答:控制限值通常都会计算出来。规格限值通常根据客户要求设置。您可以使用列属性设置控制限值。
问:我注意到你们的色谱柱属性列表中有“检测限”选项。但我无法使用该选项。为什么?
答:它是在 JMP Pro 16 中引入的,因此您需要 JMP Pro 16 版或更高版本。
问:JMP 能帮助我使用历史数据来创建规格限值吗?
答:是的,您可以将分布拟合到历史数据,也可以使用交互式能力图来探索改变规格限值的影响。
Interactive Capability Plot交互式能力图交互式能力图
问:如何绘制两个并排流程的控制图?例如,我从 2020 年至今一直使用流程 A,然后在 2022 年对流程进行了更改,现在使用的是流程 B。我想连续绘制这两个流程图,以显示 Xbar 中的切换。
答:您可以使用“阶段”和“阶段”列值来实现。以下是使用我们样本数据中的 Diameter.jmp 的示例,创建一个或多个图表来展示各个过程。
问:控制限值和规格限值有什么区别?
答:控制限值用于监控流程的波动性,以确定波动是否在预期范围内。规格限值则与产品的能力有关,是由客户或利益相关者定义的公差水平。
资源: