了解測量系統分析原理,包括將量規 R&R 與 Don Wheeler 在《EMP III –使用不完美資料》(2006 年)一書中所述的 EMP(評估測量過程)方法進行比較。使用附加的數據來練習使用所介紹的一些技巧。定期更新的數據也可在goldensnowball.com 上找到。
了解如何:
- 量化測量系統變化及其對過程的影響
- 了解基本的測量系統評估原則
- 了解量規研究的目的和類型
- 了解進行量規研究的注意事項:隨機零件順序、一天中的時間、操作員保密、遵循標準程序、監控但不干擾測試
- 進行連續儀表研究
- 解釋變異性量表、量表 R&R 測量、量表 R&R 的變異數分量
- 運行交叉測試
- 選擇公差區間或規格(LSL 和 USL)
- 執行屬性量表研究
- 使用 EMP 方法實現對測量系統進行分類的類間相關性視角
- 了解流程篩選的目的:確定流程是否穩定、可預測,以便您可以用它來監控未來的績效和/或評估流程變化的影響
- 檢查過程的聲音:製程是否受控且表現出最小的差異?
- 檢查客戶的聲音:流程是否產生符合規格的優質/最佳零件?
- 使用控製圖產生器檢查製程能力
- 解讀單值與移動極差圖、極限總和、XBar 和 R 圖、製程能力分析
- 了解 JMP 15 中引入的多元控製圖的目的:識別兩個或多個相互關聯的過程變量,這些變量之間的相互關係可能會影響過程能力,儘管各個過程可能看起來處於控制狀態
資源
JMP Variability Gauge Study OptionsJMP 變異性量表研究選項
JMP 變異性量表研究選項
JMP 變異性量表研究選項
JMP Variability Gauge Study ResultsJMP 變異性量表研究結果
JMP 變異性量表研究結果
JMP 變異性量表研究結果
JMP Gauge Study ResultsJMP儀表研究結果
JMP儀表研究結果
JMP儀表研究結果