理解测量系统分析原理,包括将量具重复性和重复性 (R&R) 与 Don Wheeler 在《EMP III – 使用不完美数据》(2006) 一书中描述的 EMP(评估测量过程)方法进行比较。使用附件中的数据练习运用文中介绍的一些技巧。这些数据会定期更新,也可在goldensnowball.com 上找到。
了解如何:
- 量化测量系统变化及其对过程的影响
- 了解基本的测量系统评估原则
- 了解量规研究的目的和类型
- 了解进行量规研究的注意事项:随机零件顺序、一天中的时间、操作员保密、遵循标准程序、监控但不干扰测试
- 进行连续仪表研究
- 解释变异性量表、量表 R&R 测量值、量表 R&R 的方差分量
- 运行交叉测试
- 选择公差区间或规格(LSL 和 USL)
- 执行属性量表研究
- 使用 EMP 方法实现对测量系统进行分类的类间相关性视角
- 了解流程筛选的目的:确定流程是否稳定、可预测,以便您可以用它来监控未来的绩效和/或评估流程变化的影响
- 检查过程的声音:过程是否受控且表现出最小的差异?
- 检查客户的声音:流程是否产生符合规格的优质/最佳零件?
- 使用控制图生成器检查过程能力
- 解读单值和移动极差图、极限汇总、XBar 和 R 图、过程能力分析
- 了解 JMP 15 中引入的多元控制图的目的:识别两个或多个相互关联的过程变量,这些变量之间的相互关系可能会影响过程能力,尽管各个过程可能看起来处于控制状态
资源
JMP Variability Gauge Study OptionsJMP 变异性量表研究选项
JMP 变异性量表研究选项
JMP 变异性量表研究选项
JMP Variability Gauge Study ResultsJMP 变异性量表研究结果
JMP 变异性量表研究结果
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JMP Gauge Study ResultsJMP仪表研究结果
JMP仪表研究结果
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