Don Wheeler가 저서 『EMP III – 불완전한 데이터 활용』(2006)에서 설명한 EMP(Evaluating the Measurement Process) 접근법과 게이지 R&R(Gauge R&R)을 비교하는 것을 포함하여 측정 시스템 분석 원리를 이해합니다. 첨부된 데이터를 활용하여 제시된 기법들을 연습해 보세요. 정기적으로 업데이트되는 데이터는 goldensnowball.com에서도 확인할 수 있습니다.
방법을 확인하세요:
- 측정 시스템 변동을 정량화하고 이것이 프로세스에 미치는 영향을 파악합니다.
- 기본 측정 시스템 평가 원리를 이해합니다.
- 게이지 연구의 목적과 유형을 이해하세요
- 게이지 연구 수행 시 고려 사항 이해: 무작위 부품 순서, 시간, 운영자 기밀 유지, 표준 절차 준수, 테스트 모니터링(단, 테스트 방해 금지)
- 연속 게이지 연구 수행
- 변동성 게이지 차트, 게이지 R&R 측정, 게이지 R&R의 분산 성분 해석
- 교차 테스트 실행
- 허용오차 간격 또는 사양(LSL 및 USL)을 선택하세요
- 속성 게이지 연구 수행
- EMP 방법을 사용하여 측정 시스템 분류를 위한 클래스 간 상관관계 관점을 얻습니다.
- 범위 차트, 평행 플롯, EMP 결과, 게이지 분류 해석
- 프로세스 스크리닝의 목적 이해: 프로세스가 안정적이고 예측 가능한지 확인하여 향후 성과를 모니터링하거나 프로세스에 대한 변경의 영향을 평가하는 데 사용할 수 있습니다.
- 프로세스의 목소리를 살펴보세요. 프로세스가 통제되고 있으며 최소한의 변동을 보이고 있습니까?
- 고객의 목소리를 살펴보세요. 사양에 맞는 양호/최고의 부품을 생산하는 프로세스가 진행되고 있나요?
- Control Chart Builder를 사용하여 프로세스 역량을 조사하세요
- 개별 및 이동 범위 차트, 한계 요약, XBar 및 R 차트, 공정 능력 분석 해석
- JMP 15에 도입된 다변수 관리도의 목적을 이해합니다. 개별 프로세스가 제어 상태에 있을 수 있지만 상호 관계가 프로세스 능력에 영향을 미칠 수 있는 두 개 이상의 상호 관련 프로세스 변수를 식별합니다.
자원
JMP Variability Gauge Study OptionsJMP 변동성 게이지 연구 옵션
JMP 변동성 게이지 연구 옵션
JMP 변동성 게이지 연구 옵션
JMP Variability Gauge Study ResultsJMP 변동성 게이지 연구 결과
JMP 변동성 게이지 연구 결과
JMP 변동성 게이지 연구 결과
JMP Gauge Study ResultsJMP 게이지 연구 결과
JMP 게이지 연구 결과
JMP 게이지 연구 결과
