Verstehen Sie die Prinzipien der Messsystemanalyse, einschließlich des Vergleichs von Gauge R&R mit dem EMP-Ansatz (Evaluating the Measurement Process), der von Don Wheeler im Buch EMP III – Using Imperfect Data (2006) beschrieben wird. Nutzen Sie die beigefügten Daten, um einige der vorgestellten Techniken zu üben. Die regelmäßig aktualisierten Daten finden Sie auch auf goldensnowball.com.
Erfahren Sie, wie Sie:
- Quantifizieren Sie die Abweichungen im Messsystem und deren Auswirkungen auf Ihren Prozess
- Grundlegende Prinzipien der Bewertung von Messsystemen verstehen
- Verstehen Sie Zwecke und Arten von Eichstudien
- Verstehen Sie die Überlegungen zur Durchführung einer Messgerätestudie: Zufällige Teilereihenfolge, Tageszeit, Vertraulichkeit des Bedieners, Befolgen von Standardverfahren, Überwachen, aber Nichtbeeinflussen von Tests
- Durchführen einer kontinuierlichen Messgerätestudie
- Interpretieren Sie das Variabilitätsmessdiagramm, die R&R-Messwerte des Messgeräts und die Varianzkomponenten für das R&R-Messgerät.
- Führen Sie gekreuzte Tests durch
- Toleranzintervalle oder Spezifikationen auswählen (LSL und USL)
- Durchführen einer Attributmessstudie
- Interpretieren von Messattributdiagrammen und Übereinstimmungsberichten
- Verwenden Sie die EMP-Methode, um eine Interklassen-Korrelationsperspektive für die Klassifizierung eines Messsystems zu erreichen
- Interpretieren Sie Bereichsdiagramme, Paralleldiagramme, EMP-Ergebnisse und Messgeräteklassifizierung
- Verstehen Sie den Zweck des Prozess-Screenings: Um festzustellen, ob der Prozess stetig, stabil und vorhersehbar ist, damit Sie ihn zur Überwachung der zukünftigen Leistung und/oder zur Bewertung der Auswirkungen von Änderungen auf den Prozess verwenden können.
- Untersuchen Sie die Stimme des Prozesses: Ist der Prozess unter Kontrolle und weist er nur minimale Abweichungen auf?
- Untersuchen Sie die Stimme des Kunden: Ergibt der Prozess gute/beste Teile, die den Spezifikationen entsprechen?
- Verwenden Sie den Control Chart Builder, um die Prozessfähigkeit zu untersuchen
- Interpretieren Sie Einzel- und gleitende Spannweitendiagramme, Grenzwertzusammenfassungen, XBar- und R-Diagramme, Prozessfähigkeitsanalyse
- Verstehen Sie den Zweck der in JMP 15 eingeführten multivariaten Kontrolldiagramme: Identifizierung von zwei oder mehr miteinander verbundenen Prozessvariablen, bei denen die Wechselbeziehung die Prozessfähigkeit beeinträchtigen könnte, obwohl die einzelnen Prozesse unter Kontrolle zu sein scheinen.
Ressourcen
JMP Variability Gauge Study OptionsOptionen für JMP-Variabilitätsmessgerätstudien
Optionen für JMP-Variabilitätsmessgerätstudien
Optionen für JMP-Variabilitätsmessgerätstudien
JMP Variability Gauge Study ResultsErgebnisse der JMP-Variabilitätsmessstudie
Ergebnisse der JMP-Variabilitätsmessstudie
Ergebnisse der JMP-Variabilitätsmessstudie
JMP Gauge Study ResultsErgebnisse der JMP Gauge-Studie
Ergebnisse der JMP Gauge-Studie
Ergebnisse der JMP Gauge-Studie
