製品の信頼性を確認するための加速寿命試験に没頭してください。
加速寿命試験 (ALT) は、長期間にわたって良好に動作する必要がある部品の製品信頼性を評価するために必要です。動作条件下では故障率が低いため、妥当な時間内に故障が発生するように部品を高負荷でテストする必要があります。このような信頼性解析が必要なデバイスには、医療機器、半導体回路、航空機器などが含まれます。加速テスト データを分析して、単一および複数の定負荷テストと増加負荷テストの両方の動作寿命を予測する方法を学びます。
このイベントはドイツ語で開催されます。皆様のご参加をお待ちしております！他の言語については、「JMP の学習」ページを参照して、興味のある言語をフィルタリングしてください。
https://community.jmp.com/t5/Learn-JMP-Events/eb-p/learn-jmp-events
プレゼンテーションの冒頭で参照した英語マスタリング JMP へのリンクは次のとおりです: Diving Into Accelerated Life Testing for Product Reliability
ここに、 JMP 開発者チュートリアルを使用した疲労試験データの分析へのリンクがあります。 CSALT 開発者向けチュートリアルは次のとおりです: 定常応力加速寿命試験
