EMEA Mastering JMP : Plongée dans les tests accélérés de fiabilité des produitsPlongez-vous dans des tests de durée de vie accélérés pour la fiabilité des produits
Les tests de durée de vie accélérés (ALT) sont nécessaires pour évaluer la fiabilité des produits qui doivent fonctionner correctement sur de longues périodes. En raison des faibles taux de défaillance dans les conditions opérationnelles, les pièces doivent être testées sous des charges élevées afin que les défaillances se produisent dans un délai raisonnable. Les appareils qui nécessitent de telles analyses de fiabilité comprennent les appareils médicaux, les circuits semi-conducteurs, les appareils aéronautiques, etc. Apprenez à analyser les données de tests accélérés pour prédire la durée de vie opérationnelle des tests de charge constante simples et multiples ainsi que des tests de charge croissante.
Ingénierie de la qualité et des procédésRe: EMEA Mastering JMP : Plongée dans les tests de durée de vie accélérés pour la fiabilité des produitsCet événement se déroulera en allemand. J'attends avec impatience votre participation ! Pour d'autres langues, jetez un œil à la page Apprendre JMP et filtrez selon la langue qui vous intéresse :
https://community.jmp.com/t5/Learn-JMP-Events/eb-p/learn-jmp-events
Re: EMEA Mastering JMP : Plongée dans les tests de durée de vie accélérés pour la fiabilité des produitsVoici le lien vers le Mastering JMP en anglais auquel j'ai fait référence au début de la présentation : Diving Into Accelerated Life Testing for Product Reliability
Voici le lien vers le didacticiel Analyse des données de test de fatigue à l'aide du didacticiel du développeur JMP . Et voici le didacticiel du développeur CSALT : Tests de durée de vie accélérés sous contrainte constante
