Actualmente estoy en JMP16 pero estoy pensando en actualizar a 18 pronto.
He leído algunas de las discusiones sobre el tema. Básicamente, si tenemos un conjunto de datos con múltiples partes que tienen cada una sus propios límites de especificación (para las mismas métricas), la forma de evaluarlas todas al mismo tiempo es utilizando la plataforma de detección de procesos y una tabla de límites de especificación asociada. Si intentáramos esto en la plataforma de Capacidad de proceso, incluso con una tabla de límites de especificación, solo podríamos aplicar un conjunto de objetivo, LSL y USL por cada columna de métrica. Esto parece un descuido, ya que la plataforma de Capacidad de proceso tiene más opciones para la representación gráfica y el análisis en comparación con la plataforma de detección de procesos.
¿Se ha resuelto esto en JMP 18?
¿Hay alguna otra forma de solucionar este problema mediante scripts? He leído que, de lo contrario, se deben realizar divisiones de tablas y análisis de capacidad de cada proceso por pieza o muestra, pero cuando se tienen decenas o cientos de ellas, no es posible.
Cualquier ayuda sería apreciada.
