Die Halbleiterfertigung ist ein teurer und komplexer Prozess, weshalb die Aufrechterhaltung der Produktausbeute, der Zykluszeit und der Qualität von entscheidender Bedeutung ist. Die Aufrechterhaltung der Prozessstabilität im Herstellungsprozess und die Entwicklung der Fähigkeit, den Prozess nach einer Prozessinstabilität aufgrund besonderer Ursachen schnell wieder in einen normalen Zustand zu versetzen, haben große Auswirkungen auf Qualität, Kosten und Lieferung und sind eine äußerst wichtige Angelegenheit.
NXP Semiconductors fördert systematische Problemlösungsansätze und kontinuierliche Verbesserung und nutzt diese Ansätze, integriert mit Six Sigma, um Produkteigenschaften oder Herstellungsprozesse wieder auf den Normalzustand zu bringen. Es ist uns gelungen, die Ursache und Lösung des Problems in kürzester Zeit logisch zu identifizieren Zeit.
In dieser Präsentation werden wir die grundlegenden Problemlösungstools von Six Sigma und die statistische Analysesoftware JMP verwenden, um zu erklären, wie wir statistische Modellierung, Screening-Funktionen usw. nutzen, die beim maschinellen Lernen (ML) usw. verwendet werden, und Big Data analysieren Erklären Sie anhand verschiedener Problembeispiele, wie Sie Dutzende möglicher Ursachen effektiv und schnell auf eine kleine Anzahl von Ursachen eingrenzen können.
