레벨: 중급
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실험 계획 과정에서 많은 잠재적인 중요한 요소가 확인되는 경우가 많습니다. 이러한 중요한 요소를 가능한 한 많이 조사하는 것이 이상적입니다. 많은 요인을 조사하는 데 필요한 실행 횟수를 최소화하는 데 사용할 수 있는 다양한 스크리닝 설계가 있습니다. 스크리닝 설계의 주요 목표는 추가 조사가 필요한 활성 요인을 찾는 것입니다. 신호를 잡음으로부터 분리하는 것은 어려울 수 있으므로 이러한 설계를 분석하는 방법을 선택하는 것이 중요합니다. 이 강연에서는 ChrisGotwalt와 PhilRamsey가 개발한 자동 검증 기술을 사용하여 다양한 스크리닝 설계를 분석하는 방법을 설명합니다. 초점은 그룹 직교 과포화 설계(GO-SSD)와 최종 스크리닝 설계(DSD)입니다. 프레젠테이션에서는 이러한 스크리닝 설계를 분석하기 위한 다른 기법과 비교한 자동 검증 기법의 결과를 보여줍니다.
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