In Halbleitergeräten gibt es zahlreiche Parameter und jede Sekunde werden unzählige Datenmengen erzeugt. Um solch große Datenmengen zu analysieren, sind komplexe Vorverarbeitungsprozesse, statistische Ansätze und Analysetools zur Visualisierung erforderlich.
Mit JSL können Sie alle Daten automatisch stapelweise statistisch analysieren und die Analyseergebnisse in einem einseitigen zusammenfassenden Bericht anzeigen. Wir stellen ein Beispiel vor, wie Ingenieure ein JMP-Add-in entwickelt haben, um es jedem zu ermöglichen, problemlos komplexe Analysen durchzuführen.
