Il existe de nombreux paramètres dans les équipements semi-conducteurs et d’innombrables quantités de données sont générées chaque seconde. Afin d’analyser une si grande quantité de données, des processus de prétraitement complexes, des approches statistiques et des outils d’analyse capables de les visualiser sont nécessaires.
À l'aide de JSL, vous pouvez analyser automatiquement statistiquement toutes les données par lots et afficher les résultats de l'analyse via un rapport récapitulatif d'une page. Nous présentons un exemple de la façon dont les ingénieurs ont développé un complément JMP pour permettre à quiconque d'effectuer facilement des analyses complexes.
