Para abordar el nuevo mercado espacial centrado en la reducción de costes, el uso de productos COTS (circuitos en los estantes) es una buena opción. Para cumplir con la fiabilidad espacial, los COTS deben evaluarse y modificarse para cumplir con las especificaciones de la agencia espacial, especialmente en Single Event Latchup (SEL). Este efecto se produce por el impacto de un ion pesado en el circuito. La energía transmitida a la materia (LET) activa el tiristor parásito e induce el latchup. La sensibilidad del SEL se caracteriza por el umbral LET y los criterios de tensión de mantenimiento. Hasta ahora, para evaluar el umbral LET, se realizaban simulaciones TCAD y pruebas experimentales, pero TCAD consume mucho tiempo y las sesiones de irradiación son muy caras. Un modelo analítico del umbral LET es una solución para obtener una estimación rápida a un coste menor y podría ayudar a endurecer el producto a la radiación. JMP está bien adaptado para ayudar a construir y analizar los resultados de un diseño de experimento (DOE). Su perfilador está adaptado para encontrar la mejor combinación de las entradas para cumplir con los criterios del umbral LET.
