Pour répondre au nouveau marché spatial axé sur la réduction des coûts, l'utilisation de produits COTS (circuit sur étagère) est une bonne option. Pour être conforme à la fiabilité spatiale, les COTS doivent être évalués et modifiés pour répondre aux spécifications des agences spatiales, en particulier sur le Single Event Latchup (SEL). Cet effet se produit par l'impact d'un ion lourd sur le circuit. L'énergie transmise à la matière (LET) déclenche le thyristor parasite et induit le latchup. La sensibilité du SEL est caractérisée par le seuil LET et les critères de tension de maintien. Jusqu'à présent, pour évaluer le seuil LET, des simulations TCAD et des tests expérimentaux étaient effectués, mais le TCAD prend du temps et les séances d'irradiation sont très coûteuses. Un modèle analytique du seuil LET est une solution pour obtenir une estimation rapide à moindre coût et pourrait aider à durcir le produit aux radiations. JMP est bien adapté pour aider à la construction et à l'analyse des résultats d'un plan d'expérience (DOE). Son profileur est adapté pour trouver la meilleure combinaison des entrées pour répondre aux critères du seuil LET.
