使用 JSL 進行 WAFER 反應預測和分析 (2021-KR-30MP-1023)為了製造單一半導體，需要許多單元製程。
只有各個工序順利進行，才能獲得優質的半導體，而這是透過工序之間的測量來管理的。然而，一致的分析是困難的，因為它以各種設備和FAB的形式存在。
在這裡，我們介紹一個任何人都可以使用 JSL 輕鬆、快速、一致地進行分析的案例。
它利用有限的數據預測 WAFER 內 RESPONSE 的分佈並提供統計資訊。
此外，它還直觀地顯示互動式分析結果。
進階統計建模自動化和腳本編寫基礎資料分析與建模消費者與市場研究數據探索和視覺化實驗設計大規模客製化預測建模和機器學習品質和工藝工程分享和交流成果
