Predicción y análisis de RESPUESTA mediante WAFER utilizando JSL (2021-KR-30MP-1023)Para fabricar un solo semiconductor se requieren numerosos procesos unitarios.
Sólo cuando cada proceso avanza bien podemos obtener semiconductores de alta calidad, y esto se consigue mediante mediciones entre procesos. Sin embargo, un análisis consistente es difícil porque existe en diversas formas por equipo y FAB.
Aquí presentamos un caso en el que cualquiera puede analizar de manera fácil, rápida y consistente usando JSL.
Predice la distribución de RESPUESTA dentro de WAFER con datos limitados y proporciona información estadística.
Además, muestra visualmente los resultados del análisis interactivo.
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