Actualmente, varios componentes de las fábricas inteligentes se están aplicando activamente en la industria manufacturera. En esta tendencia, se están publicando muchos ejemplos excelentes de aplicación de diversos datos de proceso a modelos de análisis de big data. Sin embargo, los modelos de análisis de big data están teniendo dificultades para popularizarse debido a limitaciones como la asignación de enormes cantidades de recursos, tiempos de aprendizaje relativamente largos y ajustes por parte de expertos. En este estudio, nos gustaría proponer un Explorador de datos funcionales que pueda analizar datos de seguimiento de varios procesos y equipos. Esta técnica puede modelar los datos recopilados basándose en una función básica y, como resultado, devuelve un valor funcional. El análisis se realizó basándose en un sensor de cámara semiconductora y se confirmó que era más eficaz para detectar anomalías basándose en estadísticas básicas como el promedio y la desviación. Se espera que la conveniencia del análisis de datos en tiempo real mejore mediante la técnica de análisis de este estudio.
