JMP/JMP Pro 17 中與基因體分析相關的新功能介紹_Hideo Oi (2022-JA-25MP-18)程度：初學者
隨著現有 JMP Genomics 新品停售，JMP 17 和 JMP Pro 17 配備了與基因組分析相關的全新改進功能。我們將透過演示介紹其中一些值得關注的分析功能。我們將介紹火山圖的創建，該功能可以可視化基因表現強度與表型水平之間的差異；支持寬數據和缺失值插補的主成分分析；加速大規模數據分析的層次聚類分析；在低維（二維或三維）中顯示遺傳標記等高維多變量數據的多變量嵌入；以及標記統計，該功能可在遺傳標記數據中添加註釋數據表，以便在分析數據中添加註釋。
1988年，他在豐橋技術科學大學獲得資訊工程碩士學位後，任職於摩托羅拉/飛思卡爾半導體公司，負責缺陷分析、良率和品質改進，以及位於德克薩斯州的研究實驗室。之後，他參與了產品上市項目，並擔任高級首席工程師，為世界各地的工廠解決問題。 2011年仙台工廠關閉後，他成為豐橋技術科學大學的特邀講師，並致力於利用晶體生長技術開發插入式神經電極。 2017年，他開始擔任現職。
自動化和腳本基礎資料分析與建模消費者與市場研究內容組織資料混合與清理數據探索與視覺化實驗設計大規模客製化預測模型和機器學習品質與工藝工程可靠度分析
