레벨: 중급
In situations of IP sensitivity, the ability to provide guidance to supplier for continued process improvement is challenged. This presentation introduces a methodology to address this. It uses retrospective analysis to separate the special cause from common cause, leading to establishment improved controls and performance capability. JMP tools like ANOVA, each pair t-test, 3 way control chart, and goal plot are fundamental instruments to this methodology.
지적 재산에 민감한 상황에서는 공급업체에게 지속적인 프로세스 개선을 위한 지침을 제공할 수 있는 능력이 묻습니다. 본 발표에서는 이 문제를 해결하기 위한 방법론을 소개한다. 이 기술은 사후 분석을 사용하여 특수 원인과 일반 원인을 분리하고 개선된 컨트롤과 성능 능력을 가진 달성 가능한 프로세스 목표를 수립합니다. JMP의 ANOVA, 각 쌍의 t 검정, 3원 관리도, 골 플롯 등은 이 방법론의 기본 도구입니다.
From Santa Clara, California, Tao Yu leads global supplier engineering effort on coating and adhesive at Applied Materials. Tao holds a PhD in Polymer Materials Science. He has worked in the R&D role with various industries, where he practiced JMP learnings process optimization. Tao's recent interest in quality engineering motivated him to seek greater utilization of JMP tools and statistical guidance. Tao is STIPS certified, now working on black belt certification.
캘리포니아 산타 클라라 출신. 어플라이드 머티리얼즈에서 코팅 및 접착제의 글로벌 공급업체 엔지니어링을 총괄. 고분자 재료 과학 박사 학위를 취득. 다양한 업계에서 연구개발 업무에 종사해 JMP의 지견을 제품 설계나 프로세스 최적화에 활용해 왔다. 최근, 품질 공학에 흥미를 가져 JMP의 툴이나 통계 가이던스를 보다 활용하는 것을 목표로 한다. STIPS를 마치고 현재 Sixsigma의 블랙 벨트 인증을 받고 있습니다.
