Astrid Ruck, 통계 부문 수석 전문가, Autoliv
Chris Gotwalt, JMP 통계 연구 및 개발 책임자, SAS, SAS
Laura Lancaster, JMP 수석 연구 통계학자, SAS 개발자
측정 시스템 분석은 측정 시스템, 장비 및 부품뿐만 아니라 측정을 수행하는 전체 절차에 관련된 운영자, 방법 및 기술로 구성된 측정 프로세스 입니다.AIAG [1] 또는 VDA [4]와 같은 자동차 산업 지침은 테스트당 1차원 출력을 조사하지만 데이터 곡선을 출력으로 처리하는 방법은 설명하지 않습니다.이 프레젠테이션에서는 힘 대 거리 출력 곡선을 사용하여 게이지 반복성 및 재현성(GR&R) 연구를 수행하는 방법을 보여줌으로써 첫 번째 단계를 수행합니다.JMP Pro의 기능 데이터 탐색기는 이 GR&R 연구를 수행하는 데 사용된 것과 같이 측정 곡선과 같은 함수인 데이터를 분석하도록 설계되었습니다.
