Fabrizio Ruo Redda, R&D Senior Manager, Vishay Semiconductor Italiana
Die Entwicklung von Halbleiterbauelementen erfordert umfangreiche Tests und Datenanalysen. Das Labor zur elektrischen Charakterisierung stellt den Entwicklungsingenieuren große Mengen an Daten zur Verfügung, die je nach den zu testenden Produkten jedes Mal in unterschiedlichen Formaten vorliegen.
Normalerweise verbringen Entwicklungsingenieure viel Zeit mit dem Zusammentragen der Daten, während nur ein kleiner Teil ihrer Zeit für wertschöpfende Tätigkeiten aufgewendet wird, wie etwa für die statistische Analyse der Daten und das Ziehen fundierter Schlussfolgerungen.
Im Rahmen eines Lean Six Sigma Projektes konnte aufgezeigt werden, welcher wirtschaftliche Vorteil durch die Eliminierung der aufwändigen Datenaufbereitung bzw. des „Datenverschiebens“ erzielt werden kann.
Mithilfe der JMP-Skriptfunktion können komplexe Datendateien von verschiedenen Testern verwaltet werden, sodass sie problemlos in eine SQL-Datenbank hochgeladen werden können.
Entwicklungsingenieure können nun mit JMP Daten direkt aus SQL in einem analysebereiten Format herunterladen.
Die typische technische Analysezeit wurde um mehr als 85 % reduziert, aber noch wichtiger ist, dass sie jetzt nur noch der wertschöpfenden Analyse gewidmet ist, ohne dass intellektuelle Verschwendung stattfindet. Darüber hinaus wurde die Qualität der Analyse und der Schlussfolgerung verbessert, auch unter Berücksichtigung der Möglichkeit, schnelle Vergleiche zwischen Produkten oder mit zuvor erfassten Daten anzustellen.
