Fabrizio Ruo Redda, directeur principal R&D, Vishay Semiconductor Italiana
Le développement de dispositifs semi-conducteurs nécessite un travail important de tests et d’analyse de données. Le laboratoire de caractérisation électrique fournit une grande quantité de données aux ingénieurs de développement, se présentant à chaque fois sous des formats différents en fonction des produits spécifiques testés.
En général, les ingénieurs de développement passent beaucoup de temps à rassembler les données, tandis qu'une fraction limitée de leur temps est consacrée à des activités à valeur ajoutée comme l'analyse statistique des données et l'élaboration de conclusions judicieuses.
Dans le cadre d’un projet Lean Six Sigma, il a été possible de démontrer l’avantage économique réalisable en éliminant la fastidieuse préparation des données ou en améliorant le processus de « déplacement des données ».
La capacité de script JMP est utilisée pour gérer des fichiers de données complexes provenant de différents testeurs afin qu'ils puissent être facilement téléchargés dans une base de données SQL.
Les ingénieurs de développement peuvent désormais utiliser JMP pour télécharger des données directement depuis SQL dans un format prêt à être analysé.
Le temps d'analyse technique typique a été réduit de plus de 85%, mais plus important encore, il est désormais consacré uniquement à l'analyse à valeur ajoutée sans gaspillage intellectuel. De plus, la qualité de l'analyse et des conclusions est désormais améliorée, compte tenu également de la possibilité de faire des comparaisons rapides entre produits ou avec des données précédemment collectées.
