Niveau : Intermédiaire
Ces dernières années, la régression PLS (Moindres Carrés Partiels) a été utilisée pour développer des modèles prédictifs utilisant des données spectrales. Cette présentation montrera comment une nouvelle approche utilisant l'Explorateur de Données Fonctionnelles (EDF) et les fonctionnalités de covariables des Plans d'Expériences (PDE) permet de développer de meilleurs modèles prédictifs avec moins de données spectrales. Cette nouvelle méthode utilise un quart à un tiers des données précédemment utilisées pour développer des modèles prédictifs. Nous présenterons également la nouvelle plateforme de Cartes de Contrôle Multivariées Pilotées par les Modèles (MDMCC) de JMP 15 pour analyser les données spectrales.
Avant de rejoindre l'équipe JMP, Bill Worley a passé 14 ans chez Procter & Gamble, dont les cinq dernières années en tant que responsable technologique du groupe Modélisation et Simulation, où il a formé et soutenu l'utilisation de JMP. Worley est chimiste et titulaire d'un master en chimie de l'Université de Cincinnati.
